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RECONSTRUCTION OF DISPLACEMENT FIELDS OF DEFECTS IN CRYSTALS FROM ELECTRON MICROGRAPHS .I. ANALYTIC FIELDS

被引：15
作者：
HEAD, AK
机构：
来源：
AUSTRALIAN JOURNAL OF PHYSICS | 1969年 / 22卷 / 01期
关键词：
D O I：
10.1071/PH690043
中图分类号：
O4 [物理学];
学科分类号：
0702 ;
摘要：
引用
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页码：43 / &
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