USE OF A MICROCHANNEL PLATE FOR ION-BEAM TUNING OF ANALYTICAL MASS SPECTROMETERS

被引：8

作者：

ABERTH, WH ^{[1
]}

SPERRY, RR ^{[1
]}

机构：

[1] STANFORD RES INST,MASS SPECTROMETRY DEV CTR,MENLO PK,CA 94025

来源：

REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1974年 / 45卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1063/1.1686429

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

收藏

页码：128 / 129

页数：2

相关论文

共 1 条

[1] RUGGIERI DJ, 1972, IEEE T NUCL SCI, VNS19, P74