THE USE OF AN INTERFERENCE MICROSCOPE FOR MEASUREMENT OF EXTREMELY THIN SURFACE LAYERS

被引：45

作者：

BOND, WL

SMITS, FM

机构：

来源：

BELL SYSTEM TECHNICAL JOURNAL | 1956年 / 35卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1002/j.1538-7305.1956.tb03825.x

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1209 / 1221

页数：13

共 6 条

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