OBSERVATIONS ON EQUAL-INCLINATION INTERFERENCE FRINGES FROM A THIN CRYSTAL OF SILICON USING NEARLY PARALLEL X-RAY BEAM

被引:4
作者
SUGII, K
MATSUSHITA, T
KOHRA, K
机构
关键词
D O I
10.1143/JPSJ.31.1295
中图分类号
O4 [物理学];
学科分类号
0702 ;
摘要
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