共 5 条
OBSERVATIONS ON EQUAL-INCLINATION INTERFERENCE FRINGES FROM A THIN CRYSTAL OF SILICON USING NEARLY PARALLEL X-RAY BEAM
被引:4
作者:
SUGII, K
MATSUSHITA, T
KOHRA, K
机构:
关键词:
D O I:
10.1143/JPSJ.31.1295
中图分类号:
O4 [物理学];
学科分类号:
0702 ;
摘要:
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