MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF THIN FILMS BY MULTIPLE-BEAM INTERFERENCE

被引：6

作者：

WEAVER, C

BENJAMIN, P

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1038/1771030a0

中图分类号：

O [数理科学和化学]; P [天文学、地球科学]; Q [生物科学]; N [自然科学总论];

学科分类号：

07 ; 0710 ; 09 ;

摘要：

引用

页码：1030 / 1031

页数：2

相关论文

共 7 条

[1]

AVERY, 1949, NATURE, V163, P916

[2]

HEAVENS, 1951, P PHYS SOC B, V64, P419

[3]

PICARDO, 1943, J APPL PHYS, V14, P291

[4]

SCHULZ, 1950, J OPT SOC AM, V40, P761

[5]

SCOTT, 1950, J APPL PHYS, V21, P843

SENNETT, RS ;

SCOTT, GD .

[7]

TOLANSKY, 1948, MULTIPLE BEAM INTERF