TEMPERATURE PROFILING BY RAYLEIGH-SCATTERING LIDAR

被引：35

作者：

SCHWIESOW, RL ^{[1
]}

LADING, L ^{[1
]}

机构：

[1] RISO NATL LAB,DK-4000 ROSKILDE,DENMARK

来源：

APPLIED OPTICS | 1981年 / 20卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.20.001972

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：1972 / 1979

页数：8

共 36 条

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