METHOD OF PREPARING SI AND GE SPECIMENS FOR EXAMINATION BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY

被引：111

作者：

BOOKER, GR

STICKLER, R

机构：

来源：

BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1962年 / 13卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1088/0508-3443/13/9/303

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

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页码：446 / &

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共 4 条

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