X-RAY MEASUREMENT OF ELASTIC STRAIN AND ANNEALING IN SEMICONDUCTORS

被引：55

作者：

COHEN, BG

FOCHT, MW

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(70)90040-7

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：105 / &

共 9 条

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