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DETERMINATION OF AS STICKING COEFFICIENTS USING REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON-DIFFRACTION INTENSITY OSCILLATIONS ON GAAS
被引:12
作者
:
CHOW, R
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0
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0
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0
CHOW, R
FERNANDEZ, R
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0
FERNANDEZ, R
机构
:
来源
:
III-V HETEROSTRUCTURES FOR ELECTRONIC / PHOTONIC DEVICES
|
1989年
/ 145卷
关键词
:
D O I
:
10.1557/PROC-145-13
中图分类号
:
O7 [晶体学];
学科分类号
:
0702 ;
070205 ;
0703 ;
080501 ;
摘要
:
引用
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页码:13 / 19
页数:7
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