共 1 条
[1]
MARTIN JA, 1973, Z ANAL CHEM, V265, P122
IMPURITY PROFILES OF SILICON PROBES PROCESSED BY DIFFERENT METHODS
被引：7
作者：
NIESE, S
机构：
来源：
JOURNAL OF RADIOANALYTICAL CHEMISTRY
|
1980年
/
58卷
/
1-2期
关键词：
D O I：
10.1007/BF02533788
中图分类号：
O65 [分析化学];
学科分类号：
070302 ;
081704 ;
摘要：
引用
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页码：195 / 204
页数：10
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