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X-RAY-LITHOGRAPHY BREAKS THE SUBMICROMETER BARRIER
被引:9
作者
:
LEPSELTER, MP
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
LEPSELTER, MP
机构
:
来源
:
IEEE SPECTRUM
|
1981年
/ 18卷
/ 05期
关键词
:
D O I
:
10.1109/MSPEC.1981.6369505
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
Integrated circuit manufacture
引用
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页码:26 / 29
页数:4
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