NOISE MEASUREMENTS IN SEMICONDUCTORS AT VERY LOW FREQUENCIES

被引：25

作者：

FIRLE, TE

WINSTON, H

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1063/1.1722076

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：716 / 717

页数：2

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共 4 条

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