INTERFEROMETRIC TESTING OF LARGE OPTICAL COMPONENTS WITH CIRCULAR COMPUTER HOLOGRAMS

被引：26

作者：

ICHIOKA, Y

LOHMANN, AW

机构：

来源：

APPLIED OPTICS | 1972年 / 11卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.11.002597

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：2597 / &

共 9 条

[1] PHASE QUANTIZATION - A COMPACT DERIVATION [J].

DALLAS, WJ .

APPLIED OPTICS, 1971, 10 (03) :673-&

[2]

Fercher A. F., 1970, Optics and Laser Technology, V2, P200, DOI 10.1016/0374-3926(70)90131-6

[3]

GOODMAN JW, 1969, IBM J RES DEV, V14, P478

HANSLER, RL .

APPLIED OPTICS, 1968, 7 (09) :1863-&

ICHIOKA, Y ;

IZUMI, M ;

SUZUKI, T .

APPLIED OPTICS, 1971, 10 (02) :403-&

[6]

PASTOR J, 1969, APPL OPTICS, V8, P525

[7]

Tsujiuchi J., 1963, PROGR OPTICS, VII, P131

[8] MIRROR BLANK TESTING BY REAL-TIME HOLOGRAPHIC INTEROMETRY [J].

VANDEELEN, W ;

NISENSON, P .

[9]

Wyant J. C., 1971, APPL OPTICS, V10, P619