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SOFT X-RAY APPEARANCE POTENTIAL SPECTROMETER FOR ANALYSIS OF SOLID SURFACES

被引：117
作者：
PARK, RL
HOUSTON, JE
SCHREINER, DG
机构：
来源：
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1970年 / 41卷 / 12期
关键词：
D O I：
10.1063/1.1684416
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要：
引用
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页码：1810 / +
页数：1
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