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PREPARATION OF STANDARDS FOR THIN-FILM THICKNESS MEASUREMENTS BY ENERGY DISPERSIVE-X-RAY ANALYSIS
被引:11
作者
:
KAMMLOTT, GW
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
KAMMLOTT, GW
机构
:
来源
:
APPLIED SPECTROSCOPY
|
1981年
/ 35卷
/ 03期
关键词
:
Compendex;
D O I
:
10.1366/0003702814732689
中图分类号
:
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
:
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要
:
THICKNESS MEASUREMENT
引用
收藏
页码:324 / 328
页数:5
相关论文
共 5 条
[1]
ABBOTT WH, 1966, 1ST ANN REPORT
[2]
ANDERSON CA, 1973, MICROPROBE ANAL
[3]
[Anonymous], 1966, J ELECTROCHEM SOC
[4]
BIRKS LS, 1971, CHEM ANAL
[5]
CAMPBELL WE, 1968, P ELECTRICAL CONTACT, P233
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[1]
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