光学式非接触厚度-微位移测量仪的研制

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作者
陈阳
机构
[1] 哈尔滨理工大学
关键词
厚度-微位移,三角测量法,PSD传感器,80C552单片机;
D O I
暂无
年度学位
2003
学位类型
硕士
导师
摘要
在计算机控制下,光、机、电相结合的微厚测量仪,不仅能实现高精度、高效率的非接触测量,不破坏被测物体表面,而且易于实现动态采样、实时处理、在线测量等自动化要求,因而在现代化的工业测量中将具有广泛的应用和前景。 光学式非接触厚度-微位移测量仪是在激光三角测量法的基础上实现的,在本研究方案中,根据象点在PSD上的移动量建立与被测物厚度-微位移变化之间的数学模型,通过对象点位置变化的计算,实现被测物厚度-微位移变化量的测量。 本文重点阐述了光学式非接触厚度-微位移测量仪的工作原理,并对测量仪的工作过程进行了分析;对影响测量精度的因素做了讨论。同时对仪器的软、硬件进行了设计,制成了一台原理样机。应用该测量仪对厚度-微位移测量进行了多项实测,对测试数据作了分析和讨论,取得了比较满意的结果,达到了设计要求。 该测量仪的分辨力小于0.2m,量程1000m。
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页数:71
共 14 条
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