电磁继电器贮存加速寿命试验数据处理方法的研究

电磁继电器是一种最常见的低压电器产品,广泛地应用在国防军事与工业自动化等领域中,其可靠性直接影响到整个系统的可靠性水平。本文所研究的产品为航天用密封式电磁继电器,其贮存时间远远大于使用时间,所以更关心它在贮存阶段的可靠性。研究这种可靠性,一般采用加速寿命试验的方法。 为了有效缩短试验时间,以便在较短的时间内对产品的贮存寿命进行推断及预测,这就需要运用适当的数据处理方法对有限的试验数据进行分析,以期用来帮助推算产品的实际贮存寿命。 本文采用一元线性回归、指数回归、加权指数回归、多项式回归(最小二乘法)和灰色理论等五种分析方法分别对五种试验数据进行了拟合与预测。 1.阐述了每种方法的数据分析原理,并给出了五种拟合与预测模型参数的确定方法; 2.根据模型参数的求解步骤,设计了专门的数据分析软件,利用计算机辅助完成数据处理: 3.给出了五种方法的拟合与预测结果,分析了数据处理的精度,同时针对各种方法的预测效果作出了比较,并最终推算出试品的贮存失效期限。 本文的软件编写环境为VC++6.0,文章中涉及的函数坐标图全部是采用origin6.0绘制的。 本课题是在河北工业大学电器研究所有关电磁继电器贮存加速寿命试验的基础上进行的。