不同盐密和灰密对110kV复合绝缘子污秽闪络特性的影响研究

复合绝缘子因其重量轻、机械强度高、耐污闪性能好、运行维护方便等优点在电力系统中得到了广泛应用。但复合绝缘子仍不断发生污闪，这与现有的人工污秽试验仅考虑盐密的影响不无关系。因此，本文选择110kV复合绝缘子为试品，在人工雾室中研究了灰密（NSDD）和盐密（ESDD）对其污闪特性的影响，并分析了复合绝缘子的闪络过程和闪络机理。 本文研究表明：人工污秽试验中，复合绝缘子污闪电压U_f与ESDD和NSDD均有关，但二者的影响是彼此独立的。随着ESDD或NSDD的增加，其U_f均按幂函数规律降低，ESDD和NSDD对U_f影响的特征指数分别为0.106、0.140，即对于复合绝缘子，灰密的影响大于盐密，这与瓷绝缘子相反。如普通悬式瓷绝缘子分别为0.24、0.14。灰密对污闪电压影响的原因有二：一是吸收更多的水分，二是阻碍复合绝缘子的憎水性的迁移。通过对大量试验数据及试验结果的分析，本文得到110kV复合绝缘子污闪电压可表示为：U_f=110.0ρESDD-0.106ρNSDD-0.140。 通过对110kV复合绝缘子不同污秽度闪络过程图片及闪络电压和泄漏电流波形图进行分析，得到如下结论： （1） 不同污秽度下，复合绝缘子的闪络过程都经历电弧的产生、熄灭、重燃、发展直至闪络等几个阶段，但其电弧熄灭时间、电弧强度及电弧发展的速度存在差异； （2） 复合绝缘子的闪络电压及泄漏电流随污秽度的不同而发生周期性的变化，但污闪电压及泄漏电流往往表现为互逆的两个过程，即随污秽度的不同，一个周期性地减小，一个周期性地增大。