基于FT-IR的材料光谱发射率测量的标准装置研究

物体表面的发射率受多种因素的共同影响,主要取决于物质的种类、表面温度和表面状况。不同物体之间的发射率存在很大的差异,同一物体的发射率又随着温度、表面粗糙度、表面受氧化程度等的不同而又有所不同。并且由于测量装置的不同,仪器的非线性、环境的杂散光、温度测量的不准确性等的影响,发射率的精确测量一直难以实现。特别是对材料在低温环境下的发射率的测量,发射率测量的不确定度较大。然而,随着社会的不断发展进步如何精确测量材料的发射率在现代军事技术、航空航天、能源电力等方面具有重大的研究和应用价值。 目前,代表该领域最先进的测量技术是使用傅立叶变换光谱仪来测试材料的光谱发射率。由于其突出的优点已在许多国家的实验室、科研单位等建立了各种测量装置。为了实现高精度、快速测量材料的光谱发射率,中国计量科学研究院热工所在原有的基于光栅单色仪测量材料发射率基础之上准备建立一套基于傅立叶变换光谱仪的材料光谱发射率及黑体辐射谱测量的标准装置。 本课题目的是建立一套基于傅立叶变换光谱仪的材料光谱发射率测量的标准装置,能够实现温度范围150℃～750℃之间,光谱范围2～14μm内固体材料的光谱发射率的精确测量。