芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620446981.7

申请日：

2016-05-17

公开(公告)号：

CN206020601U

公开(公告)日：

2017-03-15

发明(设计)人：

沈琦崧余玉龙

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区张江高科技园区金科路2537号301室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海波拓知识产权代理有限公司 31264

代理人：

杨波

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-15	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

熊凯 ;

文亚东 ;

辜诗涛 ;

张亦锋 ;

袁俊 .

中国专利 :CN211086513U ,2020-07-24

[2]

芯片测试装置 [P].

刘琪 ;

吴伟军 ;

林德先 .

中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08

[3]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 ;

鲁刚强 .

中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14

[4]

芯片测试装置 [P].

王宸星 ;

刘婧 ;

朱月月 ;

朱伟强 ;

韩婷婷 ;

田密 ;

李志坚 .

中国专利 :CN220983345U ,2024-05-17

[5]

芯片测试装置 [P].

朱玥琦 ;

武恒文 ;

朱捷 .

中国专利 :CN215007530U ,2021-12-03

[6]

芯片测试装置 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

陈东林 ;

郭航旗 ;

夏嵩 .

中国专利 :CN223155145U ,2025-07-25

[7]

芯片温度测试装置 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN222653075U ,2025-03-21

[8]

SOP芯片测试装置 [P].

东菲菲 .

中国专利 :CN221405948U ,2024-07-23

[9]

芯片快速测试装置 [P].

杨建设 ;

张雅凯 .

中国专利 :CN222482371U ,2025-02-14

[10]

芯片测试装置 [P].

陈任佳 ;

林德先 .

中国专利 :CN204102576U ,2015-01-14

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