光强分布的测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710270811.7

申请日：

2017-04-24

公开(公告)号：

CN108731797B

公开(公告)日：

2018-11-02

发明(设计)人：

朱钧黄磊金国藩范守善

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室

IPC主分类号：

G01J100

IPC分类号：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-10	授权	授权
2018-11-02	公开	公开
2018-11-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 1/00 申请日:20170424

共 50 条

[1]

光强分布的测量方法 [P].

朱钧 ;

朱景雷 ;

姜开利 ;

冯辰 ;

魏继卿 ;

金国藩 ;

范守善 .

中国专利 :CN103487139A ,2014-01-01

[2]

光强分布的测量方法 [P].

姜开利 ;

朱钧 ;

冯辰 ;

范守善 .

中国专利 :CN103487142B ,2014-01-01

[3]

光强分布的测量方法 [P].

姜开利 ;

朱钧 ;

冯辰 ;

范守善 .

中国专利 :CN103487140A ,2014-01-01

[4]

光强分布的检测系统 [P].

黄磊 ;

朱钧 ;

金国藩 ;

范守善 .

中国专利 :CN108731800B ,2018-11-02

[5]

光强度分布测量方法及光强度分布测量装置 [P].

酒井博 .

中国专利 :CN1510663A ,2004-07-07

[6]

光强分布的检测系统 [P].

朱钧 ;

朱景雷 ;

姜开利 ;

冯辰 ;

魏继卿 ;

金国藩 ;

范守善 .

中国专利 :CN103487141B ,2014-01-01

[7]

光强分布的检测系统 [P].

姜开利 ;

朱钧 ;

冯辰 ;

范守善 .

中国专利 :CN103487143B ,2014-01-01

[8]

相对光强分布测量装置及测量方法 [P].

古迪 ;

卢永胜 ;

刘殷 ;

谢梓佳 ;

宁土荣 ;

张镇伟 ;

覃文 ;

朱伟玲 .

中国专利 :CN117419802A ,2024-01-19

[9]

一种光瞳面光强分布的测量方法 [P].

葛亮 ;

马明英 .

中国专利 :CN104007619A ,2014-08-27

[10]

紫外光强度的测量方法 [P].

张连峰 ;

张金松 ;

宛如意 .

中国专利 :CN104330153B ,2015-02-04

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