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数据校验方法、装置、设备、介质和程序产品

被引：0
申请号：
CN202210644009.0
申请日：
2022-06-08
公开(公告)号：
CN114943100A
公开(公告)日：
2022-08-26
发明(设计)人：
张利文 翁迎旭 马潇俊 杨依宁
申请人：
申请人地址：
100140 北京市西城区复兴门内大街55号
IPC主分类号：
G06F2164
IPC分类号：
代理机构：
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：
熊文鑫
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-09-13 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 21/64 申请日:20220608
2022-08-26 公开 公开
共 50 条
[1]
数据校验方法、装置、设备、存储介质及程序产品 [P]. 
吴海存 ;
刘伟 .
中国专利 :CN119557926A ,2025-03-04
[2]
数据校验方法、装置、电子设备、存储介质及程序产品 [P]. 
罗汪昊云 .
中国专利 :CN120336077A ,2025-07-18
[3]
部件校验方法、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
田中占 ;
曲勇 .
中国专利 :CN120743364A ,2025-10-03
[4]
部件校验方法、设备、存储介质和程序产品 [P]. 
田中占 ;
曲勇 .
中国专利 :CN120743364B ,2025-10-28
[5]
配置参数校验方法、装置、设备、介质和程序产品 [P]. 
饶志岗 ;
李翠芳 ;
韩越 ;
李剑 .
中国专利 :CN118118374A ,2024-05-31
[6]
数据校验方法、装置、设备、存储介质及产品 [P]. 
王杰 .
中国专利 :CN119690950A ,2025-03-25
[7]
数据校验方法、装置及计算机程序产品 [P]. 
汪皓鋆 ;
王正华 .
中国专利 :CN114925406B ,2025-05-30
[8]
数据校验方法、装置及计算机程序产品 [P]. 
汪皓鋆 ;
王正华 .
中国专利 :CN114925406A ,2022-08-19
[9]
误差校验方法、装置、设备、介质和程序产品 [P]. 
詹高伟 ;
郭继平 ;
李阿蒙 ;
吴元江 ;
姚泽龙 ;
许悦 ;
张帆 .
中国专利 :CN118913178A ,2024-11-08
[10]
文件校验方法、存储介质、电子设备及程序产品 [P]. 
林尧钦 ;
林广杰 ;
佘俊胜 .
中国专利 :CN119808173A ,2025-04-11
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