孔隙度测量方法、装置、计算设备及计算机存储介质

被引：0

申请号：

CN202211050991.5

申请日：

2022-08-30

公开(公告)号：

CN115327650A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

吕黎明王振梁国武牛德成周良文侯振永张兰兰石耀马焕英吴晓龙

申请人：

申请人地址：

300459 天津市滨海新区塘沽海洋科技园海川路1581号

IPC主分类号：

G01V510

IPC分类号：

G01N1508

代理机构：

北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276

代理人：

宋菲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	公开	公开
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 5/10 申请日:20220830

共 50 条

[1]

孔隙度测量方法、装置、计算设备及计算机存储介质 [P].

吕黎明 ;

王振 ;

梁国武 ;

牛德成 ;

周良文 ;

侯振永 ;

张兰兰 ;

石耀 ;

马焕英 ;

吴晓龙 .

中国专利 :CN115327650B ,2024-11-15

[2]

影像测量方法、计算设备及计算机可读存储介质 [P].

段存立 ;

陆游 .

中国专利 :CN115876162B ,2025-08-12

[3]

温度测量方法、装置及计算机存储介质 [P].

李佳 ;

王小东 .

中国专利 :CN111982305A ,2020-11-24

[4]

测量方法、测量装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

孙延娥 ;

闫文明 .

中国专利 :CN120685047A ,2025-09-23

[5]

PUCCH信噪比测量方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

沈旭骏 ;

付磊 ;

黄晓光 .

中国专利 :CN115175231B ,2024-12-03

[6]

边距测量方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

汪献义 ;

高梁 ;

高子翔 .

中国专利 :CN114858119A ,2022-08-05

[7]

边距测量方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

汪献义 ;

高梁 ;

高子翔 .

中国专利 :CN114858119B ,2024-04-02

[8]

文件存储方法、装置、计算设备及计算机存储介质 [P].

刘禹 .

中国专利 :CN113434344A ,2021-09-24

[9]

推荐方法、装置、计算设备及计算机存储介质 [P].

张聪 ;

邹易展 ;

张文婷 ;

刘霄 ;

陈辉 .

中国专利 :CN115017413A ,2022-09-06

[10]

测距方法、装置、计算设备及计算机存储介质 [P].

韩艺 ;

黄德友 ;

井中武 ;

张昊楠 ;

阮福明 ;

李政琨 ;

李汶轩 ;

武迪 .

中国专利 :CN117572428B ,2024-08-06

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