量子芯片的测试方法、量子计算机

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211279477.9
申请日
2022-10-19
公开(公告)号
CN117952219A
公开(公告)日
2024-04-30
发明(设计)人
请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人
本源量子计算科技(合肥)股份有限公司
申请人地址
230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期E2楼六层
IPC主分类号
G06N10/40
IPC分类号
G06F11/22
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
量子芯片的测试方法、量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117952217A ,2024-04-30
[2]
量子芯片的测试方法、量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117852657A ,2024-04-09
[3]
量子芯片的测试方法、量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117852658A ,2024-04-09
[4]
量子芯片的测试方法、装置及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN118731631A ,2024-10-01
[5]
量子芯片的测试方法、装置及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN118818252B ,2025-12-09
[6]
量子芯片的测试方法、装置及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN118818252A ,2024-10-22
[7]
量子芯片的测试方法、装置及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN118604562A ,2024-09-06
[8]
量子芯片的测试方法、装置以及量子计算机 [P]. 
赵勇杰 ;
赵杨超 .
中国专利 :CN115144736A ,2022-10-04
[9]
量子芯片的测试方法、装置及量子计算机 [P]. 
请求不公布姓名 ;
孔伟成 .
中国专利 :CN118734983A ,2024-10-01
[10]
量子芯片的测试系统及量子计算机 [P]. 
李雪白 ;
王锦涛 ;
孔伟成 ;
黄小龙 .
中国专利 :CN115902572B ,2024-06-14