测试电阻的结构及方法、WAT测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410278241.6

申请日：

2024-03-12

公开(公告)号：

CN118130902A

公开(公告)日：

2024-06-04

发明(设计)人：

季鸣

申请人：

上海积塔半导体有限公司

申请人地址：

201208 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区云水路600号

IPC主分类号：

G01R27/02

IPC分类号：

G01R31/26 G01R1/02

代理机构：

北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718

代理人：

黄贞君

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-21	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 27/02申请日:20240312
2024-06-04	公开	公开

共 50 条

[1]

WAT测试结构及WAT测试方法 [P].

张涛 ;

梁昕 .

中国专利 :CN119650549A ,2025-03-18

[2]

自动对接的环网柜回路电阻测试装置及测试方法 [P].

黄宋林 ;

纪桂文 ;

李楚浩 ;

李佳 .

中国专利 :CN120971819A ,2025-11-18

[3]

绝缘电阻的精度测试方法、测试装置和测试系统 [P].

张芳 ;

袁文文 ;

薛振杰 ;

吴学强 .

中国专利 :CN119064673A ,2024-12-03

[4]

一种电阻测试方法及电阻测试装置 [P].

黄荣 ;

景小红 .

中国专利 :CN113740607A ,2021-12-03

[5]

基于开尔文连接的WAT测试系统和WAT测试装置 [P].

廉哲 ;

徐立 ;

潘朝松 ;

黄建军 .

中国专利 :CN117471274A ,2024-01-30

[6]

电阻芯片的测试电路、测试装置和测试系统 [P].

王英广 ;

韦敏荣 ;

栗伟斌 ;

李建强 ;

李晓白 .

中国专利 :CN213302427U ,2021-05-28

[7]

电阻测试结构及电阻测试方法 [P].

赵东艳 ;

陈燕宁 ;

刘芳 ;

王泽楠 ;

汪海 ;

吴永玉 ;

吴波 ;

邓永峰 ;

李君建 ;

朱松超 .

中国专利 :CN119742300A ,2025-04-01

[8]

一种电阻阻值测试装置 [P].

赵志新 ;

唐祥科 ;

周际 .

中国专利 :CN212646810U ,2021-03-02

[9]

偏置电阻测试装置及偏置电阻测试装置的使用方法 [P].

陈鹏 ;

罗奇艳 ;

白云 ;

杨富森 ;

童松林 .

中国专利 :CN102735941A ,2012-10-17

[10]

WAT测试装置的检测方法及系统 [P].

蔡颖 ;

陈彤 ;

毛贵蕴 .

中国专利 :CN115020285B ,2025-11-28

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