共 50 条
[1]
[2]
[3]
[4]
[5]
[6]
[7]
[8]
[9]
[10]
一种放大器芯片测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202322563422.7
申请日：
2023-09-21
公开(公告)号：
CN220773219U
公开(公告)日：
2024-04-12
发明(设计)人：
李美华
申请人：
上海犇芯半导体科技有限公司
申请人地址：
200000 上海市静安区延平路128号1幢4层413J室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/02
G01R1/04
代理机构：
青岛恒昇众力知识产权代理事务所(普通合伙) 37332
代理人：
李威
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-04-12 | 授权 | 授权 |