芯片电性能测试机构

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311821507.9
申请日
2023-12-27
公开(公告)号
CN117630646A
公开(公告)日
2024-03-01
发明(设计)人
狄建科 杜朋
申请人
苏州展德自动化设备有限公司
申请人地址
215021 江苏省苏州市工业园区杏林街98号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
江苏圣典律师事务所 32237
代理人
王玉国
法律状态
公开
国省代码
黑龙江省 哈尔滨市
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共 50 条
[1]
芯片电性能测试机构 [P]. 
狄建科 ;
杜朋 .
中国专利 :CN221804191U ,2024-10-01
[2]
全数电性能测试机测试针机构 [P]. 
陈占胜 .
中国专利 :CN201392351Y ,2010-01-27
[3]
VCXO晶体电性能测试机构 [P]. 
郝建军 ;
李永斌 ;
何庆利 .
中国专利 :CN205427081U ,2016-08-03
[4]
一种电芯电性能测试头及电芯电性能测试机构 [P]. 
蒋世超 ;
许明懿 ;
岳赵敏 ;
谭焜 .
中国专利 :CN221124831U ,2024-06-11
[5]
横向双工位电芯性能测试机构 [P]. 
欧秋良 ;
岑道辉 ;
彭清松 .
中国专利 :CN210775783U ,2020-06-16
[6]
一种滤波器测试机的电性能测试机构 [P]. 
吉明阳 ;
陈加阳 ;
高超 ;
赵成刚 ;
陈建业 ;
吉庆 ;
代福勇 .
中国专利 :CN212749077U ,2021-03-19
[7]
芯片电性能测试平台 [P]. 
李崇万 .
中国专利 :CN213398824U ,2021-06-08
[8]
纵式六工位笔电性能测试机构 [P]. 
郝尚书 ;
程俊锋 ;
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中国专利 :CN210775772U ,2020-06-16
[9]
一种电性能测试机 [P]. 
林俊宇 ;
陈贤明 ;
曹熏陶 ;
王佳琪 .
中国专利 :CN223217628U ,2025-08-12
[10]
一种PTC电性能测试机的上片机构 [P]. 
李惠明 .
中国专利 :CN207738111U ,2018-08-17