用于带电粒子显微镜等冷冻样品的改良型制备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811494530.0

申请日：

2018-12-07

公开(公告)号：

CN109900729B

公开(公告)日：

2024-02-13

发明(设计)人：

H-W.瑞米基

申请人：

FEI公司

申请人地址：

美国俄勒冈州

IPC主分类号：

G01N23/2202

IPC分类号：

G01N1/42

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

佘鹏;傅永霄

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-13	授权	授权

共 50 条

[1]

用于带电粒子显微镜等冷冻样品的改良型制备 [P].

H-W.瑞米基 .

中国专利 :CN109900729A ,2019-06-18

[2]

用于带电粒子显微镜的样品保持器 [P].

M.P.W.范登博嘉尔德 ;

M.拉格朗日 ;

N.H.罗德里格斯 .

中国专利 :CN111599662A ,2020-08-28

[3]

用于带电粒子显微镜的样品保持器 [P].

M.P.W.范登博嘉尔德 ;

M.拉格朗日 ;

N.H.罗德里格斯 .

美国专利 :CN111599662B ,2025-01-03

[4]

用于带电粒子显微镜的低温样本的制备 [P].

H-W.雷米格伊 .

中国专利 :CN106872500B ,2017-06-20

[5]

用于带电粒子显微镜的无磁场样品平面 [P].

A·亨斯特拉 ;

A·穆罕默迪-盖达里 ;

P·C·蒂梅耶 .

中国专利 :CN114664619A ,2022-06-24

[6]

带电粒子线显微镜以及该带电粒子显微镜的控制方法 [P].

千野肇 ;

绵引胜 ;

岩谷彻 .

中国专利 :CN102668014A ,2012-09-12

[7]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

T.图玛 ;

J.赫拉迪尔 ;

P.赫拉文卡 .

中国专利 :CN110849926A ,2020-02-28

[8]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

T.图玛 ;

J.赫拉迪尔 ;

P.赫拉文卡 .

美国专利 :CN110849926B ,2025-02-14

[9]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 ;

J.彼得雷克 .

中国专利 :CN112098440A ,2020-12-18

[10]

使用带电粒子显微镜评估样品的方法 [P].

D·内梅切克 ;

S·昂格尔 ;

H·费利佩奥 ;

T·M·J·布雷瑟斯 ;

S·米利安 ;

L·凯拉维奇 .

美国专利 :CN118150625A ,2024-06-07

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