一种平面光学元件平面度测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311520149.8

申请日：

2023-11-15

公开(公告)号：

CN117781828A

公开(公告)日：

2024-03-29

发明(设计)人：

许增奇刘选民刘新武苏瑛张瑜王章利郭芮张峰王阜超杨硕

申请人：

西安应用光学研究所

申请人地址：

710065 陕西省西安市雁塔区电子三路西段九号

IPC主分类号：

G01B5/28

IPC分类号：

G01B5/00

代理机构：

中国兵器工业集团公司专利中心 11011

代理人：

刘二格

法律状态：

公开

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-29	公开	公开
2024-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 5/28申请日:20231115

共 50 条

[1]

平面光学元件的面形偏差测量方法 [P].

江晓军 ;

刘正国 .

中国专利 :CN101672631B ,2010-03-17

[2]

一种平面度测量装置及测量方法 [P].

张军 ;

赵涵 ;

陈毅 .

中国专利 :CN110186363A ,2019-08-30

[3]

可动态测量平面光学元件面形的测量装置及方法 [P].

段亚轩 ;

达争尚 ;

郑小霞 ;

董晓娜 ;

王拯洲 ;

张伟刚 ;

孙策 ;

蔺辉 ;

陈晓义 ;

范尧 .

中国专利 :CN112504164A ,2021-03-16

[4]

一种平面度测量装置及测量方法 [P].

王雷 ;

刘璐 .

中国专利 :CN114353705B ,2025-07-11

[5]

一种平面度测量装置及测量方法 [P].

王雷 ;

刘璐 .

中国专利 :CN114353705A ,2022-04-15

[6]

高阈值平面光学元件设计方法、制备方法及平面光学元件 [P].

罗先刚 ;

王青松 ;

李雄 ;

方瑶 ;

孟宇 ;

张承君 .

中国专利 :CN120821076A ,2025-10-21

[7]

平面度测量仪及平面度测量方法 [P].

张钊卫 ;

刘瑜 ;

杨军 ;

孙士勇 ;

熊念 ;

马敏雯 ;

刘冰洁 .

中国专利 :CN120991756A ,2025-11-21

[8]

极耳的平面度测量装置及测量方法 [P].

刘洋 ;

王浩聪 ;

曹素良 ;

张政涛 .

中国专利 :CN103075950A ,2013-05-01

[9]

一种线材平面度测量装置及测量方法 [P].

刘玉国 ;

汪千瑾 ;

马驰 .

中国专利 :CN113566683A ,2021-10-29

[10]

一种平面光学元件 [P].

徐峥 .

中国专利 :CN205027950U ,2016-02-10

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