原位监测化学化工反应双级联扣杂散光发射光谱测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010883520.7

申请日：

2020-08-28

公开(公告)号：

CN114113003B

公开(公告)日：

2024-05-07

发明(设计)人：

韩克利赵文远杨阳刘建勇

申请人：

中国科学院大连化学物理研究所

申请人地址：

116023 辽宁省大连市沙河口区中山路457-41号

IPC主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N21/03

代理机构：

沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002

代理人：

王倩

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-07	授权	授权

共 5 条

[1]

原位监测化学化工反应双级联扣杂散光发射光谱测量装置 [P].

韩克利 ;

赵文远 ;

杨阳 ;

刘建勇 .

中国专利 :CN114113003A ,2022-03-01

[2]

原位监测化学化工反应的傅里叶变换红外光谱测量装置 [P].

韩克利 ;

赵文远 ;

杨阳 ;

刘建勇 .

中国专利 :CN114199805A ,2022-03-18

[3]

纳秒时间分辨的吸收和发射光谱测量装置和测量方法 [P].

徐大力 ;

韩克利 ;

刘建勇 ;

杨阳 ;

刘本康 ;

王艳秋 .

中国专利 :CN104062269B ,2014-09-24

[4]

基于发射光谱测量技术的飞灰连续取样装置 [P].

沈跃良 ;

张博 ;

徐少波 ;

温智勇 ;

陆继东 ;

苏乐春 ;

张人超 .

中国专利 :CN203616164U ,2014-05-28

[5]

基于发射光谱测量技术的飞灰连续取样装置 [P].

沈跃良 ;

张博 ;

徐少波 ;

温智勇 ;

陆继东 ;

苏乐春 ;

张人超 .

中国专利 :CN103575567A ,2014-02-12