晶圆键合结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202211226282.8
申请日
2022-10-09
公开(公告)号
CN117894745A
公开(公告)日
2024-04-16
发明(设计)人
何二威
申请人
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请人地址
100176 北京市大兴区文昌大道18号
IPC主分类号
H01L21/768
IPC分类号
H01L23/48
代理机构
北京市一法律师事务所 11654
代理人
刘荣娟
法律状态
实质审查的生效
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
晶圆键合结构及其形成方法 [P]. 
何二威 .
中国专利 :CN117790405A ,2024-03-29
[2]
晶圆键合结构及其形成方法 [P]. 
何二威 .
中国专利 :CN117894744A ,2024-04-16
[3]
晶圆键合结构及其形成方法 [P]. 
何二威 .
中国专利 :CN117976555A ,2024-05-03
[4]
晶圆键合结构及其形成方法 [P]. 
隋凯 ;
强力 ;
王易昕 ;
王金恩 ;
赵娅俊 ;
阎大勇 .
中国专利 :CN120376543A ,2025-07-25
[5]
键合结构及其形成方法、晶圆键合结构及晶圆的键合方法 [P]. 
高林 ;
蒋阳波 ;
王光毅 .
中国专利 :CN113053806A ,2021-06-29
[6]
键合结构及其形成方法、晶圆键合结构及晶圆的键合方法 [P]. 
高林 ;
蒋阳波 ;
王光毅 .
中国专利 :CN113053806B ,2024-07-05
[7]
晶圆键合标识及其形成方法、晶圆键合方法 [P]. 
刘清召 .
中国专利 :CN114664794B ,2025-07-22
[8]
晶圆键合标识及其形成方法、晶圆键合方法 [P]. 
刘清召 .
中国专利 :CN114664794A ,2022-06-24
[9]
用于键合的晶圆结构及其形成方法、键合方法 [P]. 
刘清召 .
中国专利 :CN114864465B ,2025-09-26
[10]
用于键合的晶圆结构及其形成方法、键合方法 [P]. 
刘清召 .
中国专利 :CN114864465A ,2022-08-05