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一种光学薄膜加工厚度检测设备
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202321969730.3
申请日：
2023-07-25
公开(公告)号：
CN220288582U
公开(公告)日：
2024-01-02
发明(设计)人：
周慧
汪森
申请人：
深圳市楠轩光电科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道辅城坳社区嘉湖路1-22号C栋101
IPC主分类号：
G01B21/08
IPC分类号：
代理机构：
北京奥肯律师事务所 11881
代理人：
李红
法律状态：
授权
国省代码：
广东省
深圳市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-01-02 | 授权 | 授权 |