一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410078027.6
申请日
2024-01-19
公开(公告)号
CN117576109A
公开(公告)日
2024-02-20
发明(设计)人
请求不公布姓名 请求不公布姓名 请求不公布姓名
申请人
成都数之联科技股份有限公司
申请人地址
610000 四川省成都市武侯区人民南路四段11号附1号1栋8层804、805号
IPC主分类号
G06T7/00
IPC分类号
G06V10/764 G06V10/82 G06V10/44 G06V10/42 G06V10/80 G06N3/0464 G06N3/084
代理机构
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
孙朝锐
法律状态
专利实施许可合同备案的生效、变更及注销
国省代码
四川省 成都市
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共 50 条
[1]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117576109B ,2024-04-02
[2]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117372424A ,2024-01-09
[3]
一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN117372424B ,2024-03-08
[4]
防震锤缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
张俊锋 ;
刘奇 ;
王五丰 ;
童红伟 ;
帅率 .
中国专利 :CN114693614A ,2022-07-01
[5]
一种工件表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
王华庆 ;
李佳慧 ;
宋浏阳 ;
付振宝 ;
韩长坤 .
中国专利 :CN118096673A ,2024-05-28
[6]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
冯玮 ;
张一凡 .
中国专利 :CN117853418A ,2024-04-09
[7]
一种孔探缺陷检测方法、设备及存储介质 [P]. 
郑云东 ;
邹黎明 .
中国专利 :CN118154539A ,2024-06-07
[8]
缺陷检测方法、装置、系统及存储介质 [P]. 
张元 ;
柴正约 ;
陈斌 ;
刘永江 ;
李波 .
中国专利 :CN116500042B ,2024-01-26
[9]
一种倒角缺陷检测方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
魏兵 ;
江杰 ;
黄禹 ;
荣佑民 ;
吴从义 ;
吴文强 ;
边云鹏 .
中国专利 :CN119648620A ,2025-03-18
[10]
缺陷检测方法及装置、电子设备、可读存储介质 [P]. 
程煜 ;
代明 ;
任亚恒 ;
赵航 ;
陈宏彩 ;
张伟平 .
中国专利 :CN118823513A ,2024-10-22