一种层析成像几何参数的校准方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110402573.3

申请日：

2011-12-07

公开(公告)号：

CN102488528B

公开(公告)日：

2012-06-13

发明(设计)人：

骆清铭杨孝全龚辉孟远征

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

代理机构：

北京市德权律师事务所 11302

代理人：

刘丽君

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-24	授权	授权
2012-06-13	公开	公开
2012-07-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101298513077 IPC(主分类):A61B 6/03 专利申请号:2011104025733 申请日:20111207

共 50 条

[1]

一种层析成像方法 [P].

陈健 .

中国专利 :CN118766482A ,2024-10-15

[2]

光荧光层析成像校准 [P].

T·尼尔森 ;

T·克勒 .

中国专利 :CN101467084A ,2009-06-24

[3]

一种层析成像方法 [P].

曾绍群 ;

骆清铭 ;

熊汗青 ;

郭文炎 ;

吕晓华 .

中国专利 :CN106501228B ,2017-03-15

[4]

层析成像的重建方法 [P].

孔明明 ;

李冬东 ;

赵辉 .

中国专利 :CN105096357A ,2015-11-25

[5]

激光增材制造板状构件X射线层析成像几何参数标定方法 [P].

林强 ;

丁昊昊 ;

王文健 ;

马泽明 ;

张沭玥 ;

姚鑫宇 ;

刘启跃 ;

周仲荣 ;

郭俊 ;

齐欢 ;

阳义 .

中国专利 :CN118334162A ,2024-07-12

[6]

激光增材制造板状构件X射线层析成像几何参数标定方法 [P].

林强 ;

丁昊昊 ;

王文健 ;

马泽明 ;

张沭玥 ;

姚鑫宇 ;

刘启跃 ;

周仲荣 ;

郭俊 ;

齐欢 ;

阳义 .

中国专利 :CN118334162B ,2024-08-06

[7]

一种电容层析成像系统 [P].

张茂懋 ;

伍国柱 ;

黄晓晴 ;

卢晓东 .

中国专利 :CN209624459U ,2019-11-12

[8]

计算层析成像方法 [P].

P·科肯 ;

A·齐格勒 ;

M·格拉斯 ;

T·科勒 ;

R·普罗克萨 .

中国专利 :CN101035464A ,2007-09-12

[9]

一种电容层析成像系统 [P].

李轶 ;

黄晓清 .

中国专利 :CN209231255U ,2019-08-09

[10]

Q层析成像方法 [P].

W·胡 .

中国专利 :CN102884447B ,2013-01-16

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