微机化数字集成电路功能测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN87211391.4

申请日：

1987-11-16

公开(公告)号：

CN2043763U

公开(公告)日：

1989-08-30

发明(设计)人：

刘必虎吴迎潮

申请人：

申请人地址：

上海市普陀区中山北路3663号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

华东师范大学专利事务所

代理人：

俞允超;汤锦森

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1989-08-30	公开	公开
1990-06-06	授权	授权
1993-03-10	专利权的终止未缴年费专利权终止	专利权的终止未缴年费专利权终止

共 50 条

[1]

便携式数字集成电路测试仪 [P].

韦运碧 ;

蒋伟 ;

程小会 ;

刘捷 ;

黄河 ;

蒙善生 .

中国专利 :CN212965289U ,2021-04-13

[2]

单片机数字集成电路测试仪 [P].

朱梅 ;

黄宇星 .

中国专利 :CN2153807Y ,1994-01-19

[3]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

朱二锋 ;

刘引 ;

党华 ;

侯守峰 ;

邬宝寅 .

中国专利 :CN201926737U ,2011-08-10

[4]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

朱二锋 ;

刘引 ;

党华 ;

侯守峰 ;

邬宝寅 .

中国专利 :CN102478628A ,2012-05-30

[5]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

许弋 .

中国专利 :CN213689861U ,2021-07-13

[6]

数字集成电路多值逻辑测试仪 [P].

丁巨光 .

中国专利 :CN2135786Y ,1993-06-09

[7]

一种数字集成电路测试仪 [P].

刘凯 .

中国专利 :CN215526037U ,2022-01-14

[8]

手持数字集成电路参数测试仪 [P].

于维佳 ;

莫振栋 .

中国专利 :CN103576078A ,2014-02-12

[9]

手持数字集成电路参数测试仪 [P].

于维佳 ;

莫振栋 .

中国专利 :CN203587757U ,2014-05-07

[10]

一种数字集成电路功能测试仪 [P].

詹惠琴 ;

周建 ;

古军 ;

徐林 ;

金鸣 ;

郝叶军 ;

王寅 ;

李旭刚 .

中国专利 :CN102353891A ,2012-02-15

← 1 2 3 4 5 →