一种单帧强背景干扰下的透散射介质成像方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110142913.7

申请日：

2021-02-02

公开(公告)号：

CN112950731B

公开(公告)日：

2024-01-23

发明(设计)人：

席特立何顺福邵晓鹏李伟孙杨帆梁文海樊增增高苗

申请人：

西安电子科技大学

申请人地址：

710000 陕西省西安市雁塔区太白南路2号

IPC主分类号：

G06T11/00

IPC分类号：

G06T5/70

代理机构：

西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230

代理人：

刘长春

法律状态：

授权

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-23	授权	授权

共 50 条

[1]

一种单帧强背景干扰下的透散射介质成像方法 [P].

席特立 ;

何顺福 ;

邵晓鹏 ;

李伟 ;

孙杨帆 ;

梁文海 ;

樊增增 ;

高苗 .

中国专利 :CN112950731A ,2021-06-11

[2]

一种散射介质成像中单次散射光子的提取方法 [P].

姜盼秋 ;

吴佳 ;

汪平河 .

中国专利 :CN119880814A ,2025-04-25

[3]

用于光学探测的多帧透过散射介质成像装置及其成像方法 [P].

韩宇婷 ;

孙阳 ;

沈宏海 ;

储海荣 ;

马天翔 .

中国专利 :CN117517261A ,2024-02-06

[4]

通过散射介质成像的系统及方法 [P].

泽埃夫·扎列夫斯基 .

中国专利 :CN113574438A ,2021-10-29

[5]

一种透过大光学厚度散射介质成像的方法 [P].

刘飞 ;

刘峻成 ;

张铭 ;

段景博 ;

邵晓鹏 ;

相萌 ;

周飞燕 ;

刘金鹏 ;

董雪 ;

韩平丽 ;

杨清玉 .

中国专利 :CN119688650A ,2025-03-25

[6]

一种透过大光学厚度散射介质成像的方法 [P].

刘飞 ;

刘峻成 ;

张铭 ;

段景博 ;

邵晓鹏 ;

相萌 ;

周飞燕 ;

刘金鹏 ;

董雪 ;

韩平丽 ;

杨清玉 .

中国专利 :CN119688650B ,2025-10-21

[7]

一种光电协同散射介质成像系统及其方法 [P].

袁瑛 ;

毛涵秋 ;

冯玉尧 .

中国专利 :CN111724328B ,2024-03-05

[8]

一种光电协同散射介质成像系统及其方法 [P].

袁瑛 ;

毛涵秋 ;

冯玉尧 .

中国专利 :CN111724328A ,2020-09-29

[9]

基于机器学习的散射介质成像方法及系统 [P].

刘兴钊 ;

陈卉 ;

高叶盛 .

中国专利 :CN110823812B ,2020-02-21

[10]

一种基于散射介质的宽光谱单帧散射成像方法 [P].

邵晓鹏 ;

李伟 ;

刘杰涛 ;

席特立 ;

梁文海 ;

孙扬帆 ;

樊增增 ;

高苗 .

中国专利 :CN112161953B ,2021-01-01

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