上下电的系统测试方法及装置、设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311265843.X

申请日：

2023-09-27

公开(公告)号：

CN117452094A

公开(公告)日：

2024-01-26

发明(设计)人：

何熙梁逻

申请人：

重庆长安汽车股份有限公司

申请人地址：

400023 重庆市江北区建新东路260号

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

任会会;浦彩华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

重庆市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-02-13	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/00申请日:20230927
2024-01-26	公开	公开

共 50 条

[1]

电芯测试系统、方法、存储介质及测试设备 [P].

汪志明 ;

施企明 ;

黄彩虾 ;

黄芳宇 ;

唐鸣浩 .

中国专利 :CN118584368A ,2024-09-03

[2]

模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

靳嘉晖 .

中国专利 :CN112732498A ,2021-04-30

[3]

测试设备的方法、装置、系统及存储介质 [P].

李琨伦 ;

宋玉龙 .

中国专利 :CN115941079B ,2024-02-06

[4]

DPU卡上下电方法、系统、装置、设备及存储介质 [P].

郑冠儒 ;

韩威 ;

薛广营 .

中国专利 :CN117896191A ,2024-04-16

[5]

存储设备测试方法、存储设备测试系统及存储介质 [P].

张辉 .

中国专利 :CN109446013B ,2019-03-08

[6]

上下电测试方法、上下测试装置和可读存储介质 [P].

刘浩 ;

王毅 ;

许斌 ;

庄必宇 .

中国专利 :CN113505031A ,2021-10-15

[7]

系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

向瑞曾 ;

蒋宁 ;

杨锋 ;

杨砚 ;

吴海英 ;

刘磊 .

中国专利 :CN117499268A ,2024-02-02

[8]

系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈宇麟 ;

谈敏 ;

彭健 ;

罗琪 ;

梅强强 ;

吴学亮 .

中国专利 :CN113886263A ,2022-01-04

[9]

系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

覃联喜 ;

晏高林 ;

吴昊 .

中国专利 :CN114721940A ,2022-07-08

[10]

系统测试方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈宇麟 ;

谈敏 ;

彭健 ;

罗琪 ;

梅强强 ;

吴学亮 .

中国专利 :CN113886263B ,2024-11-01

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