图像瑕疵检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311812797.0

申请日：

2023-12-26

公开(公告)号：

CN117808758A

公开(公告)日：

2024-04-02

发明(设计)人：

请求不公布姓名

申请人：

聚时科技（上海）有限公司

申请人地址：

201107 上海市闵行区申滨南路1126号801室

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/774 G06V10/764 G06V10/82

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

张欣欣

法律状态：

公开

国省代码：

上海市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-02	公开	公开
2024-04-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231226

共 50 条

[1]

图像检测方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备 [P].

张博深 ;

王亚彪 ;

汪铖杰 ;

李季檩 ;

黄飞跃 .

中国专利 :CN113284142B ,2021-08-20

[2]

图像检测方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备 [P].

陈裕发 ;

龙祖苑 ;

谢宗兴 .

中国专利 :CN115700746A ,2023-02-07

[3]

图像检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

周豪 .

中国专利 :CN121147079A ,2025-12-16

[4]

图像检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈文强 .

中国专利 :CN121120471A ,2025-12-12

[5]

图像检测方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备 [P].

陈裕发 ;

龙祖苑 ;

谢宗兴 .

中国专利 :CN115700746B ,2025-11-25

[6]

瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

罗伟节 ;

安汝峤 ;

靳展 ;

林欢 ;

何兵 ;

任鹏 .

中国专利 :CN119312259B ,2025-07-18

[7]

瑕疵检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

罗伟节 ;

安汝峤 ;

靳展 ;

林欢 ;

何兵 ;

任鹏 .

中国专利 :CN119312259A ,2025-01-14

[8]

织物瑕疵的检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P].

韦帅 ;

朱浩 ;

莫兆忠 .

中国专利 :CN114419004A ,2022-04-29

[9]

织物瑕疵的检测方法、装置、计算机设备及可读存储介质 [P].

韦帅 ;

朱浩 ;

莫兆忠 .

中国专利 :CN114419004B ,2024-09-06

[10]

图像检测方法、模块、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张子轩 ;

吴菁晶 ;

詹光曹 ;

郑芳垣 ;

魏重增 ;

周晗 ;

胡泉水 .

中国专利 :CN117115604B ,2025-12-05

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