电芯外观检测设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202311175468.X
申请日
2023-09-11
公开(公告)号
CN117420134A
公开(公告)日
2024-01-19
发明(设计)人
李发冬 谢英 陈强 严家峻 盛辉 周学慧 杨勇 张凯
申请人
深圳泰德激光技术股份有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区粤海街道麻岭社区科研路9号比克科技大厦401M-2(一照多址企业)
IPC主分类号
G01N21/88
IPC分类号
G01N21/01 G01N21/13
代理机构
深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542
代理人
张睿
法律状态
实质审查的生效
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
电芯外观检测设备 [P]. 
朱文兵 ;
罗时帅 ;
钱曙光 ;
汪炉生 ;
柳洪哲 ;
柳云鸿 ;
钱根 ;
蒋朝伟 .
中国专利 :CN117324289A ,2024-01-02
[2]
电芯外观检测设备 [P]. 
王玉祥 ;
王伟俊 ;
程堂灿 ;
俞迪民 .
中国专利 :CN222152962U ,2024-12-13
[3]
电芯外观检测设备 [P]. 
朱文兵 ;
罗时帅 ;
钱曙光 ;
汪炉生 ;
柳洪哲 ;
柳云鸿 ;
钱根 ;
蒋朝伟 .
中国专利 :CN117324289B ,2024-03-08
[4]
电芯侧面外观检测设备 [P]. 
谭勇立 ;
张清 ;
缪勇 .
中国专利 :CN221505894U ,2024-08-09
[5]
一种电芯外观检测机及电芯外观检测设备 [P]. 
陈荣强 ;
莫春伟 .
中国专利 :CN216082514U ,2022-03-18
[6]
用于电芯外观检测的检测设备 [P]. 
缪勇 ;
黄智成 ;
谭勇立 ;
王俊蛟 .
中国专利 :CN221528458U ,2024-08-13
[7]
电芯外观检测设备及方法 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119757367A ,2025-04-04
[8]
裸电芯外观检测系统的点检方法及裸电芯外观检测系统 [P]. 
屠银行 ;
段广跃 .
中国专利 :CN117782993A ,2024-03-29
[9]
裸电芯外观检测系统的点检方法及裸电芯外观检测系统 [P]. 
屠银行 ;
段广跃 .
中国专利 :CN117782993B ,2024-07-12
[10]
电芯侧面检测装置及外观检测设备 [P]. 
毛雪林 ;
白升登 ;
陈佳斌 ;
林雪婷 .
中国专利 :CN111272767B ,2020-06-12