三维测量系统、三维测量方法和带彩色代码标识

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专利类型
发明
申请号
CN200610108201.9
申请日
2006-08-01
公开(公告)号
CN1912537A
公开(公告)日
2007-02-14
发明(设计)人
高地伸夫 森山拓哉 秀岛昌行 山田光晴
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G01B1100
IPC分类号
G01C1100
代理机构
永新专利商标代理有限公司
代理人
陈英俊
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
三维测量系统和三维测量方法 [P]. 
田村仁 ;
山形智生 ;
栗原健人 ;
外川阳一 .
中国专利 :CN113330277B ,2021-08-31
[2]
三维测量系统及三维测量方法 [P]. 
太田润 ;
松本慎也 ;
木口哲也 .
中国专利 :CN113748313A ,2021-12-03
[3]
三维测量系统以及三维测量方法 [P]. 
大西康裕 ;
清水隆史 ;
松本慎也 .
中国专利 :CN111566437A ,2020-08-21
[4]
三维测量系统与三维测量方法 [P]. 
余良彬 ;
林栋 .
中国专利 :CN103376071B ,2013-10-30
[5]
跟踪式三维测量系统和三维测量方法 [P]. 
王江峰 ;
王健宇 ;
杨小福 ;
陈尚俭 ;
郑俊 .
中国专利 :CN117346681A ,2024-01-05
[6]
三维测量装置、三维测量方法 [P]. 
田端伸章 .
中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26
[7]
三维测量方法和系统 [P]. 
黄淦 .
中国专利 :CN113418472B ,2021-09-21
[8]
三维测量装置和三维测量方法 [P]. 
川末纪功仁 ;
大宅雄一郎 .
中国专利 :CN1860345A ,2006-11-08
[9]
三维测量装置和三维测量方法 [P]. 
太田悠介 .
日本专利 :CN115280097B ,2025-08-26
[10]
三维测量装置和三维测量方法 [P]. 
奥田学 ;
大山刚 ;
坂井田宪彦 .
日本专利 :CN113966457B ,2024-06-11