静磁场均匀度调整方法、静磁场均匀度调整装置以及计算机

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专利类型
发明
申请号
CN201680004608.9
申请日
2016-02-10
公开(公告)号
CN107205687B
公开(公告)日
2017-09-26
发明(设计)人
藤川拓也 阿部充志 榊原健二 花田光
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
A61B5055
IPC分类号
G01R333873
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
刘慧群
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
磁场均匀度调整方法以及磁场均匀度调整装置 [P]. 
榊原健二 ;
藤川拓也 ;
阿部充志 ;
花田光 .
中国专利 :CN107205689B ,2017-09-26
[2]
静磁场均匀度的调整方法、磁共振成像用静磁场产生装置、磁场调整系统、程序 [P]. 
榊原健二 .
中国专利 :CN103442635B ,2013-12-11
[3]
投影装置色彩均匀度调整方法及色彩均匀度调整装置 [P]. 
吴志鸿 ;
周秉忠 .
中国专利 :CN118842885A ,2024-10-25
[4]
磁场均匀度的调整方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张德鹏 ;
程东芹 ;
李培勇 ;
王蕾 ;
高沪光 ;
路志强 ;
刘宇 ;
刘琦 .
中国专利 :CN118731808B ,2024-11-19
[5]
磁场均匀度的调整方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张德鹏 ;
程东芹 ;
李培勇 ;
王蕾 ;
高沪光 ;
路志强 ;
刘宇 ;
刘琦 .
中国专利 :CN118731808A ,2024-10-01
[6]
磁共振主磁体磁场均匀度检测方法 [P]. 
吴嘉敏 ;
贺玉成 ;
徐征 ;
何为 ;
廖英翔 .
中国专利 :CN114859278B ,2024-12-03
[7]
磁共振主磁体磁场均匀度检测方法 [P]. 
吴嘉敏 ;
贺玉成 ;
徐征 ;
何为 ;
廖英翔 .
中国专利 :CN114859278A ,2022-08-05
[8]
磁体调整及均匀度补偿装置 [P]. 
孙益平 ;
刘治文 .
中国专利 :CN203385843U ,2014-01-08
[9]
磁体调整及均匀度补偿装置 [P]. 
孙益平 ;
刘治文 .
中国专利 :CN104237819A ,2014-12-24
[10]
一种磁场线圈径向磁场均匀度的补偿方法 [P]. 
李享 ;
张学斌 ;
刘扬帆 ;
程华富 ;
罗慧 .
中国专利 :CN120314843A ,2025-07-15