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测试系统、测试方法、管理装置、测试装置及计算设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811566132.5
申请日
:
2018-12-20
公开(公告)号
:
CN109726124A
公开(公告)日
:
2019-05-07
发明(设计)人
:
肖佳
申请人
:
申请人地址
:
100080 北京市海淀区海淀北一街2号鸿城拓展大厦11层1101
IPC主分类号
:
G06F1136
IPC分类号
:
代理机构
:
北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413
代理人
:
李欣;项京
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-05-31
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20181220
2019-05-07
公开
公开
共 50 条
[1]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
庞冬
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
庞冬
;
杨永琦
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机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
杨永琦
;
张铁利
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机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
张铁利
;
赵东明
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机构:
霸州市云谷电子科技有限公司
霸州市云谷电子科技有限公司
赵东明
.
中国专利
:CN118130954A
,2024-06-04
[2]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
王彦淳
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机构:
台湾福雷电子股份有限公司
台湾福雷电子股份有限公司
王彦淳
;
黄泓仁
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机构:
台湾福雷电子股份有限公司
台湾福雷电子股份有限公司
黄泓仁
;
朱镇国
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机构:
台湾福雷电子股份有限公司
台湾福雷电子股份有限公司
朱镇国
;
刘伊浚
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机构:
台湾福雷电子股份有限公司
台湾福雷电子股份有限公司
刘伊浚
.
中国专利
:CN109839544B
,2024-07-16
[3]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
罗军
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罗军
;
张文兵
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张文兵
;
高峰
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高峰
.
中国专利
:CN114200238A
,2022-03-18
[4]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
王彦淳
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王彦淳
;
黄泓仁
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黄泓仁
;
朱镇国
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朱镇国
;
刘伊浚
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刘伊浚
.
中国专利
:CN109839544A
,2019-06-04
[5]
测试系统、测试装置及测试方法
[P].
苗锐
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苗锐
;
王嘉伟
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王嘉伟
;
楚思东
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楚思东
.
中国专利
:CN113168370B
,2021-07-23
[6]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
苏晓峰
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机构:
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
苏晓峰
;
陆江
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机构:
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
陆江
.
中国专利
:CN119380798B
,2025-04-29
[7]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
苏晓峰
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机构:
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
苏晓峰
;
陆江
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机构:
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
碳芯微电子科技(深圳)有限公司
陆江
.
中国专利
:CN119380798A
,2025-01-28
[8]
测试装置、测试系统及测试方法
[P].
江志伟
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江志伟
;
黄纯青
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黄纯青
;
李振东
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李振东
;
梁景洲
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梁景洲
;
蔡小洪
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蔡小洪
;
李致亮
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李致亮
.
中国专利
:CN114545138A
,2022-05-27
[9]
测试系统、测试方法及测试装置
[P].
北川和则
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北川和则
.
中国专利
:CN103686831A
,2014-03-26
[10]
测试方法、测试装置、测试天线及测试系统
[P].
熊晓峰
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熊晓峰
;
薛宗林
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薛宗林
;
王霖川
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王霖川
.
中国专利
:CN105933491A
,2016-09-07
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