跟踪器校准装置，跟踪器校准方法和程序

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880098888.3

申请日：

2018-10-31

公开(公告)号：

CN112888914A

公开(公告)日：

2021-06-01

发明(设计)人：

大桥良德

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01B2100

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

张晓明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-01	公开	公开
2021-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/00 申请日:20181031

共 50 条

[1]

校准凝视跟踪器 [P].

A·K·奇马拉玛瑞 ;

B·L·施密特晨 ;

G·鲁特 .

美国专利 :CN116823957B ,2025-12-12

[2]

程序跟踪器以及程序跟踪方法 [P].

约尔格·施丰姆莱因 .

中国专利 :CN101673238A ,2010-03-17

[3]

跟踪器支架及跟踪器 [P].

魏玉彪 ;

郭硕 .

中国专利 :CN215739418U ,2022-02-08

[4]

基于电磁跟踪器的超声探头校准 [P].

E·德赫甘马尔瓦斯特 ;

S·巴拉特 ;

A·M·塔赫玛塞比马拉古奥施 ;

G·克莱 ;

J·克吕克尔 .

中国专利 :CN105828722B ,2016-08-03

[5]

朱团 .

中国专利 :CN204964767U ,2016-01-13

[6]

陈文明 ;

江常杯 ;

林田 ;

杨明 ;

庄少华 .

中国专利 :CN301492220S ,2011-03-23

[7]

季振明 ;

陈苏荣 ;

潘建 ;

彭建学 .

中国专利 :CN201773473U ,2011-03-23

[8]

郑君雄 .

中国专利 :CN202886914U ,2013-04-17

[9]

苫相科 ;

吴海全 ;

唐忠辉 ;

彭久高 ;

师瑞文 .

中国专利 :CN305447042S ,2019-11-19

[10]

桂绍林 .

中国专利 :CN201498088U ,2010-06-02

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