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晶圆几何参数的测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011569046.7
申请日
:
2020-12-25
公开(公告)号
:
CN112729158B
公开(公告)日
:
2021-04-30
发明(设计)人
:
曾安
申请人
:
申请人地址
:
210000 江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦1849室
IPC主分类号
:
G01B1124
IPC分类号
:
G01B1116
G01B1130
G01B1106
代理机构
:
北京布瑞知识产权代理有限公司 11505
代理人
:
秦卫中
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-05-21
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/24 申请日:20201225
2021-04-30
公开
公开
2022-12-27
授权
授权
共 50 条
[1]
晶圆几何参数以及晶圆上掩膜层的厚度的测量方法
[P].
曾安
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
曾安
.
中国专利
:CN112864075B
,2024-10-01
[2]
晶圆几何参数以及晶圆上掩膜层的厚度的测量方法
[P].
曾安
论文数:
0
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0
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0
曾安
.
中国专利
:CN112864075A
,2021-05-28
[3]
晶圆平整度的测量方法
[P].
曾安
论文数:
0
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0
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0
曾安
.
中国专利
:CN112880597B
,2021-06-01
[4]
哈特曼测量装置及其测量方法和晶圆几何参数测量装置
[P].
陈建强
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陈建强
;
曾安
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曾安
;
唐寿鸿
论文数:
0
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0
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唐寿鸿
.
中国专利
:CN114543695A
,2022-05-27
[5]
竖井几何参数测量方法
[P].
彭映成
论文数:
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彭映成
;
李艳洁
论文数:
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李艳洁
;
赵建伟
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赵建伟
;
鲁辉
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鲁辉
;
钱海
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钱海
.
中国专利
:CN102364047A
,2012-02-29
[6]
空间圆几何参数的双目立体视觉测量方法
[P].
崔岸
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崔岸
;
袁智
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袁智
;
刘业峰
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刘业峰
.
中国专利
:CN101261115A
,2008-09-10
[7]
一种空间圆几何参数的视觉测量方法
[P].
周富强
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周富强
;
张广军
论文数:
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0
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张广军
.
中国专利
:CN1259542C
,2005-01-19
[8]
一种空间圆姿态参数和几何参数的视觉测量方法
[P].
张广军
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张广军
;
赵征
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赵征
;
魏振忠
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魏振忠
;
王巍
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王巍
;
李庆波
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李庆波
.
中国专利
:CN101377405B
,2009-03-04
[9]
晶圆测量方法
[P].
不公告发明人
论文数:
0
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不公告发明人
.
中国专利
:CN112201587A
,2021-01-08
[10]
晶圆厚度测量装置及晶圆厚度测量方法
[P].
田原和彦
论文数:
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机构:
株式会社神钢科研
株式会社神钢科研
田原和彦
;
宇崎良
论文数:
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机构:
株式会社神钢科研
株式会社神钢科研
宇崎良
.
日本专利
:CN118176403A
,2024-06-11
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