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抗干扰镀层厚度测量仪
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201220549900.8
申请日
:
2012-10-25
公开(公告)号
:
CN202903142U
公开(公告)日
:
2013-04-24
发明(设计)人
:
陈显东
陈生贩
江裕捺
陈生镇
陈发杰
申请人
:
申请人地址
:
201409 上海市奉贤区海湾旅游区奉新北路22号467室
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
代理机构
:
上海精晟知识产权代理有限公司 31253
代理人
:
何新平
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2013-04-24
授权
授权
2020-10-13
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20121025 授权公告日:20130424 终止日期:20191025
共 50 条
[1]
厚薄两用镀层厚度测量仪
[P].
陈显东
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0
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0
陈显东
;
陈生贩
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陈生贩
;
江裕捺
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江裕捺
;
陈生镇
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陈生镇
;
陈发杰
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陈发杰
.
中国专利
:CN102980521A
,2013-03-20
[2]
一种镀层厚度测量仪
[P].
邝风娇
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引用数:
0
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0
机构:
惠州市兴辉五金工业有限公司
惠州市兴辉五金工业有限公司
邝风娇
.
中国专利
:CN221280190U
,2024-07-05
[3]
一种镀层厚度测量仪
[P].
季文江
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季文江
;
毛华
论文数:
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毛华
.
中国专利
:CN218297075U
,2023-01-13
[4]
镀层厚度测量仪标定装置
[P].
庄琴芳
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庄琴芳
.
中国专利
:CN2869766Y
,2007-02-14
[5]
厚度测量仪
[P].
张珍
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张珍
;
熊义军
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熊义军
;
董金龙
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董金龙
.
中国专利
:CN207300109U
,2018-05-01
[6]
厚度测量仪
[P].
张新军
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张新军
;
陈涛
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陈涛
.
中国专利
:CN201293627Y
,2009-08-19
[7]
厚度测量仪
[P].
梁旭炎
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梁旭炎
;
乐可欣
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乐可欣
.
中国专利
:CN304663549S
,2018-06-05
[8]
厚度测量仪
[P].
高峰
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0
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高峰
.
中国专利
:CN106482608B
,2017-03-08
[9]
厚度测量仪
[P].
约翰·奥格斯
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约翰·奥格斯
.
中国专利
:CN301152487D
,2010-03-10
[10]
厚度测量仪
[P].
韩鉴波
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韩鉴波
;
陈炜
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陈炜
;
黄建
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黄建
;
李苏敏
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李苏敏
.
中国专利
:CN205505936U
,2016-08-24
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