电抗器线圈的故障检测方法、故障检测装置及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810463209.X
申请日
2018-05-15
公开(公告)号
CN108919040A
公开(公告)日
2018-11-30
发明(设计)人
邢超 陈志勇 赵军 高树国 王丽丽 孙路
申请人
申请人地址
050011 河北省石家庄市裕华区体育南大街238号
IPC主分类号
G01R3106
IPC分类号
G01R3112
代理机构
深圳中一专利商标事务所 44237
代理人
官建红
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种故障检测方法、故障检测装置及电子设备 [P]. 
陈健文 ;
都广斌 ;
陈文亮 ;
董国君 ;
何英生 .
中国专利 :CN113542012B ,2021-10-22
[2]
电抗器故障检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
周国伟 ;
杨杰 ;
邹晖 ;
邢佳磊 ;
胡俊华 ;
周建平 ;
陈欣 ;
陈川 ;
雷振洲 ;
孙林涛 ;
汪全虎 ;
彭晨光 ;
戴鹏飞 .
中国专利 :CN117594064A ,2024-02-23
[3]
故障检测方法、故障检测装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙慧 ;
许双伟 ;
程远瑶 ;
李金壑 ;
李俊松 ;
赵青莉 ;
王紫成 ;
周伯尼 ;
宋健健 ;
闫博 .
中国专利 :CN117734793A ,2024-03-22
[4]
引脚故障检测方法、电子设备及故障检测装置 [P]. 
蒋业尚 .
中国专利 :CN118471305A ,2024-08-09
[5]
故障检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王东清 ;
李道童 ;
张炳会 ;
陈衍东 ;
韩红瑞 .
中国专利 :CN117093433B ,2024-02-09
[6]
DRAM的故障检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
肖洪钦 ;
高影 ;
虞青松 .
中国专利 :CN119065879A ,2024-12-03
[7]
故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王兆桐 .
中国专利 :CN114003459B ,2025-12-02
[8]
故障检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
王兆桐 .
中国专利 :CN114003459A ,2022-02-01
[9]
故障检测系统、故障检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN114325328B ,2025-02-14
[10]
故障检测系统、故障检测方法、电子设备及存储介质 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN114325328A ,2022-04-12