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半导体测试装置
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201921079896.1
申请日：
2019-07-11
公开(公告)号：
CN210954240U
公开(公告)日：
2020-07-07
发明(设计)人：
陈文祺
申请人：
申请人地址：
中国台湾新竹县宝山乡竹安一路26巷2号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R3126
G01R104
代理机构：
北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人：
张燕华;王馨仪
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-07-07 | 授权 | 授权 |