一种伺服同步测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020610705.2

申请日：

2010-11-16

公开(公告)号：

CN201845234U

公开(公告)日：

2011-05-25

发明(设计)人：

王清理胡书立

申请人：

申请人地址：

100080 北京市海淀区永定路51号甲

IPC主分类号：

G05B2302

IPC分类号：

代理机构：

北京凯特来知识产权代理有限公司 11260

代理人：

郑立明;孟丽娟

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-06	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G05B 23/02 登记生效日:20180211 变更事项:专利权人变更前权利人:北京航天数控系统有限公司变更后权利人:北京计算机技术及应用研究所变更事项:地址变更前权利人:100080 北京市海淀区永定路51号甲变更后权利人:100080 北京市海淀区永定路51号西工业区96号楼
2011-05-25	授权	授权
2020-12-04	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G05B 23/02 申请日:20101116 授权公告日:20110525

共 50 条

[1]

一种伺服电机同步测试装置 [P].

王传英 ;

赵忠乐 ;

冯国明 ;

王志辉 ;

李正爽 ;

王旭 ;

万熠 ;

姬帅 .

中国专利 :CN119619841A ,2025-03-14

[2]

一种同步测试装置与同步测试方法 [P].

林楷辉 ;

陈宏毅 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN114325335A ,2022-04-12

[3]

一种同步测试装置与同步测试方法 [P].

林楷辉 ;

陈宏毅 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN114325335B ,2025-01-14

[4]

一种伺服电机驱动测试装置 [P].

倪浩 .

中国专利 :CN205015457U ,2016-02-03

[5]

一种多组伺服同步测试机 [P].

何凡 ;

朱小瑞 ;

刘军 .

中国专利 :CN118362885B ,2024-10-18

[6]

一种多组伺服同步测试机 [P].

何凡 ;

朱小瑞 ;

刘军 .

中国专利 :CN118362885A ,2024-07-19

[7]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061B ,2024-04-26

[8]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061A ,2020-12-25

[9]

桥梁挠度多点同步测试装置 [P].

郭明华 ;

刘奎太 ;

侯海涛 ;

杨亚林 ;

苏清抛 ;

王金华 ;

王建民 .

中国专利 :CN208012580U ,2018-10-26

[10]

多样塌落度同步测试装置 [P].

夏海亮 ;

冯世庆 ;

陈光伟 .

中国专利 :CN221746050U ,2024-09-20

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