PCB微钻参数测量系统的检测机构

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510312987.5

申请日：

2015-06-09

公开(公告)号：

CN104976952B

公开(公告)日：

2015-10-14

发明(设计)人：

张舞杰谢长贵

申请人：

申请人地址：

523808 广东省东莞市松山湖高新技术产业开发区北部工业城中小科技企业创业园第11栋第三层B区

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1106

代理机构：

广州恒华智信知识产权代理事务所(普通合伙) 44299

代理人：

姜宗华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-13	授权	授权
2015-10-14	公开	公开
2015-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101633315581 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2015103129875 申请日:20150609

共 50 条

[1]

PCB微钻参数测量系统的检测机构 [P].

张舞杰 ;

谢长贵 .

中国专利 :CN204788247U ,2015-11-18

[2]

PCB微钻参数测量系统的清洁机构 [P].

张舞杰 ;

谢长贵 .

中国专利 :CN204769717U ,2015-11-18

[3]

PCB微钻参数测量系统的清洁机构 [P].

张舞杰 ;

谢长贵 .

中国专利 :CN104941953B ,2015-09-30

[4]

PCB微钻参数测量系统 [P].

张舞杰 ;

谢长贵 .

中国专利 :CN104949622A ,2015-09-30

[5]

PCB微钻参数测量系统 [P].

张舞杰 ;

谢长贵 .

中国专利 :CN204944430U ,2016-01-06

[6]

半导体参数测量系统的检测方法 [P].

戴晓明 .

中国专利 :CN102156271A ,2011-08-17

[7]

半导体参数测量系统的检测方法 [P].

冯程程 .

中国专利 :CN102062847B ,2011-05-18

[8]

用于PCB微钻合金切割端平度检测的夹具 [P].

商铫 ;

许梦 ;

陈光 ;

胡耀忠 .

中国专利 :CN216206222U ,2022-04-05

[9]

PCB电路参数自动测量系统 [P].

邝值勤 .

中国专利 :CN207181627U ,2018-04-03

[10]

安装组件的参数测量系统 [P].

L·法戈-勒维莱 ;

J·德特拉夫 .

中国专利 :CN111566871B ,2020-08-21

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