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便携式半导体非接触电阻率测试仪
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201730041821.4
申请日
:
2017-02-17
公开(公告)号
:
CN304200347S
公开(公告)日
:
2017-07-11
发明(设计)人
:
李杰
刘世伟
于友
石坚
申请人
:
申请人地址
:
273200 山东省济宁市泗水县圣康路大学生创业孵化基地314房间(辰宇稀有材料)
IPC主分类号
:
1004
IPC分类号
:
代理机构
:
济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙) 37254
代理人
:
张艳赞
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-07-11
授权
授权
共 50 条
[1]
便携式半导体非接触电阻率测试仪探头
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
.
中国专利
:CN304279306S
,2017-09-12
[2]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
.
中国专利
:CN206450758U
,2017-08-29
[3]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
.
中国专利
:CN206557293U
,2017-10-13
[4]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪及使用方法
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
.
中国专利
:CN106645969A
,2017-05-10
[5]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头及使用方法
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
.
中国专利
:CN106841805A
,2017-06-13
[6]
电阻率测试仪
[P].
沈阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海优睿谱半导体设备有限公司
上海优睿谱半导体设备有限公司
沈阳
;
孙友奇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海优睿谱半导体设备有限公司
上海优睿谱半导体设备有限公司
孙友奇
.
中国专利
:CN308701082S
,2024-06-25
[7]
一种半导体电阻率测试仪
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
.
中国专利
:CN208207073U
,2018-12-07
[8]
非接触式方阻及电阻率测试仪探头
[P].
党小锋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
党小锋
;
刘全义
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘全义
;
张月兰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张月兰
;
翁端佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
翁端佳
.
中国专利
:CN307315602S
,2022-05-06
[9]
半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器
[P].
毛小彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
毛小彦
;
徐晓明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐晓明
.
中国专利
:CN202066911U
,2011-12-07
[10]
便携式半导体少子寿命测试仪
[P].
李杰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李杰
;
刘世伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘世伟
;
于友
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
于友
;
石坚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
石坚
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中国专利
:CN304326814S
,2017-10-24
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