便携式半导体非接触电阻率测试仪

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN201730041821.4
申请日
2017-02-17
公开(公告)号
CN304200347S
公开(公告)日
2017-07-11
发明(设计)人
李杰 刘世伟 于友 石坚
申请人
申请人地址
273200 山东省济宁市泗水县圣康路大学生创业孵化基地314房间(辰宇稀有材料)
IPC主分类号
1004
IPC分类号
代理机构
济宁汇景知识产权代理事务所(普通合伙) 37254
代理人
张艳赞
法律状态
授权
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
便携式半导体非接触电阻率测试仪探头 [P]. 
李杰 ;
于友 ;
刘世伟 ;
石坚 .
中国专利 :CN304279306S ,2017-09-12
[2]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪 [P]. 
李杰 ;
刘世伟 ;
于友 ;
石坚 .
中国专利 :CN206450758U ,2017-08-29
[3]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头 [P]. 
李杰 ;
于友 ;
刘世伟 ;
石坚 .
中国专利 :CN206557293U ,2017-10-13
[4]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪及使用方法 [P]. 
李杰 ;
于友 ;
刘世伟 ;
石坚 .
中国专利 :CN106645969A ,2017-05-10
[5]
一种便携式半导体非接触电阻率测试仪探头及使用方法 [P]. 
李杰 ;
于友 ;
刘世伟 ;
石坚 .
中国专利 :CN106841805A ,2017-06-13
[6]
电阻率测试仪 [P]. 
沈阳 ;
孙友奇 .
中国专利 :CN308701082S ,2024-06-25
[7]
一种半导体电阻率测试仪 [P]. 
李杰 ;
于友 ;
刘世伟 ;
石坚 .
中国专利 :CN208207073U ,2018-12-07
[8]
非接触式方阻及电阻率测试仪探头 [P]. 
党小锋 ;
刘全义 ;
张月兰 ;
翁端佳 .
中国专利 :CN307315602S ,2022-05-06
[9]
半导体原材料电阻率快速便携式测试仪器 [P]. 
毛小彦 ;
徐晓明 .
中国专利 :CN202066911U ,2011-12-07
[10]
便携式半导体少子寿命测试仪 [P]. 
李杰 ;
刘世伟 ;
于友 ;
石坚 .
中国专利 :CN304326814S ,2017-10-24